Authors: Z. Fei, E. G. Iwinski, G. X. Ni, L. M. Zhang, W. Bao, A. S. Rodin, Y. Lee, M. Wagner, M. K. Liu, S. Dai, M. D. Goldflam, M. Thiemens, F. Keilmann, C. N. Lau, A. H. Castro-Neto, M. M. Fogler, D. N. Basov
Journal: Nano Lett. DOI: 10.1021/acs.nanolett.5b00912
Year: 2015
Applications: Nanoscale